手持式超声波测厚仪在校准时的解决方案
更新时间:2022-05-13 点击次数:693次
手持式超声波测厚仪基于超声波测量原理,可对金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他多种超声波的良导体材料进行厚度测量,也可实现对材料声速的反测。与传统的测量方法相比,超声波测厚仪的优势在于它只要接触到被测工件的一面即可完成测量,其*的可穿透涂层测厚度的性能为表面涂有油漆或防腐材料的工件厚度检测提供了更准确的解决方案,测量前无需处理掉表面的涂层,可以直接测量。被广泛用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等领域的生产设备中各种管道及压力容器腐蚀减薄程度的监测,也可用于对各种板材及各种加工零件的测量。是提高生产效率与合格率、节约成本必需的精密仪器。
手持式超声波测厚仪校准时的解决方案:
一、两点校准
使用与被测材料相同的一个厚校准块和一个薄校准块,可以将材料声速和零位校准操作结合在一起完成。
按【MENU OK】→【校准/CALIBRATION】→【MENU OK】。
将探头耦合到薄校准块上;
等待测量进度条结束,按【F2】零位/zero;
按上下键,调整厚度值到标准块厚度,之后按【F1】校准/CAL键确认;
将探头耦合到厚校准块上;
等待测量进度条结束,按【F3】声速/vel;
按上下键,调整厚度值到标准块厚度,之后按【MENU OK】确认结束。
二、单点校准(声速校准)
按【MENU OK】→【校准/CALIBRATION】→【MENU OK】;
将探头耦合到用户已知厚度的厚校准块上;
等待测量进度条结束,按【F3】声速/vel;
按上下键,调整厚度值到样件已知厚度或标准块厚度,之后按【MENU OK】确认结束。